i1iО так же быстр, как и i1iSys, но:

• позволяет производить измерения на подложках толщиной до 10 мм, включая фотобумагу, холст, картон, ткань, даже пластик и керамику
• i1iO считывает более 500 полей в минуту и, таким образом, вы можете быстро построить индивидуальный профиль - гибок в использовании 
  измерения в сканирующем режиме, так и в режиме измерения единичных полей шкалы
• представляет собой дополнительное устройство для прибора i1Pro (без спектрофотометра i1Pro автоматизированный стол i1iO не может быть использован)
• поскольку стол используется совместно с i1Pro, данный комплект позволит вам калибровать мониторы, измерять внешнее освещение и строить профили цифровых проекторов

• Максимальный размер измеряемой шкалы: 230 мм (9”) х 320 мм (12.6”) 
• Геомерия измерения: 0/45 круговая оптическая система, DIN 5033  
• Спектральный диапозон: 380 - 730 нм  
• Минимальный размер поля: 6 x 7 мм (0,24” x 0,28”)  
• Скорость измерения: 500 полей/мин ( в сканирующем режиме в зависимости от размера поля)  
• Максимальная толщина измеряемого материала: максимум 10 мм (0.39”)  
• Количество полей в шкале: от 1 поля до 1696 полей  
• Условия измерения: Без фильтра - ISO 13655 M0 или UV-Cut фильтр - ISO 13655 M2 в зависимости от используемого i1Pro  
• Краткосрочная повторяемость: 0.1 dE*94 по белой керамической пластине (D50, 2º), по отношению к среднему значению CIELab при 10 измерениях каждые 3 секунды  
• Межприборная согласованность: 0.4 dE*94 среднее, 1.0 dE*94 максимум ( согласно нормам производства X-Rite при температуре 23ºC (73,4ºF) по 12 керамическим эталонам BCRA (D50, 2º)

Более детальную информацию по технических характеристикам устройства, вы можете получить здесь

С информацией по технической поддержке вы можете ознакомиться здесь. Внимание - переход на страницу на английском языке.